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机译:低温MOSFET行为中的拐点现象
EPFL Integrated Circuits Lab ICLAB CH-2000 Neuchatel Switzerland;
EPFL Integrated Circuits Lab ICLAB CH-2000 Neuchatel Switzerland;
EPFL Integrated Circuits Lab ICLAB CH-2000 Neuchatel Switzerland;
Band tail; cryo-CMOS; cryogenic; disorder; inflection; interface traps; MOSFET;
机译:直接在绝缘体(SDOI)MOSFET上的超薄Si中的温度相关拐点:对关键性能指标的影响
机译:低温IV和III–V肖特基势垒MOSFET器件的物理行为
机译:微重力对低温液体中物理现象影响的物理研究以及在国际空间站上实现该研究的通用机载低温设施
机译:低温温度操作对FD UTBOX nMOSFET静态和低频噪声行为的影响
机译:MOSFET和MOS电路的压阻行为
机译:P型门 - 全面硅纳米线MOSFET的低温传输特性
机译:低阈值电压(VTH)N沟道MOSFET的低温直流特性