机译:从器件到系统的观点,研究现代场效应晶体管中自加热增强的热载流子性能:主题综述
Purdue Univ Dept ECE W Lafayette IN 47907 USA;
Temperature dependence; Lattices; MOSFET; Mathematical model; Degradation; Data models; FinFETs; hot carrier degradation (HCD); power electronics; self-heating effect; universal scaling;
机译:单层石墨烯场效应晶体管中的热载流子降解和偏置温度不稳定性:异同
机译:在鳍式场效应晶体管上检查热载流子应力引起的退化
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机译:纳米线晶体管中的热载流子降解:物理机制,宽度依赖性和自热影响
机译:基于碳纳米管场效应晶体管的光发射和光检测设备中的载流子传输。
机译:掺入离子添加剂后共轭聚合物场效应晶体管的电荷载流子迁移率显着提高
机译:使用电荷泵技术评估多Si薄膜晶体管的自加热和热载体降解