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机译:光照条件下In / Zn比对Hf-In-Zn-O薄膜晶体管性能和负偏压不稳定性的影响
Display Laboratory, Samsung Advanced Institute of Technology, Yongin, Korea;
Cation composition; Hf–In–Zn–O (HIZO); thin-film transistor (TFT);
机译:Hf掺入对Hf-In-Zn-0薄膜晶体管负偏压照明应力稳定性的影响
机译:共溅射双通道结构改善HfZnSnO / ZnSnO薄膜晶体管的负偏压照明稳定性和热稳定性
机译:照明条件下双栅极Hf-In-Zn-O薄膜晶体管的高性能和稳定性
机译:铝和铟组成对溶液处理的透明Al-In-Zn-O薄膜晶体管的偏置照明应力稳定性的影响
机译:ZnSN2薄膜的光学和电气表征
机译:机电应力同时作用对柔性In-Ga-Zn-O薄膜晶体管电性能的影响
机译:通道层厚度对喷墨印刷In-Ga-Zn氧化物薄膜晶体管电性能的影响
机译:Znse-Gaas和Znse-Ge异质结晶体管