机译:高栅极电介质pMOSFET中NBTI和RTN幅度分布的比较研究
Department of Electronics Engineering & Institute of Electronics, National Chiao Tung University , Hsinchu, Taiwan;
Amplitude; negative bias temperature instability (NBTI); random telegraph noise (RTN); simulation;
机译:高迁移率应变Ge PMOSFET,在Si衬底上具有高κ栅极电介质和金属栅极
机译:高迁移率应变Ge PMOSFET,在Si衬底上具有高κ栅极电介质和金属栅极
机译:具有肖特基势垒Germanide S / D,高κGate介电层和金属栅的锗pMOSFET
机译:TiN厚度缩放对替代金属栅极pMOSFET的DC和AC NBTI动力学影响的比较研究
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:用高κ电介质研究si 1-xGex沟道pmOsFET的电学性质