Corrections to “Demonstration of Addressable Organic Resistive Memory Utilizing a PC-Interface Memory Cell Tester”

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• 来源
  《Electron Device Letters, IEEE》 |2013年第3期|p.468|共1页
• 作者

  Cho B.; Song S.; Ji Y.; Choi H.-G.; Ko H. C.; Lee J.-S.; Jung G.-Y.; Lee T.;

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• 作者单位

  School of Materials Science and Engineering, Department of Nanobio Materials and Electronics, Gwangju Institute of Science and Technology, Gwangju, Korea;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
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• 正文语种 eng
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