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机译:SiO 2 sub> / a-InGaZnO / SiO 2 sub>叠层相同的顶栅和底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管的比较
LG Display Research and Development Center, Paju, South Korea;
Annealing; Logic gates; Materials; Reliability; Stress; Thin film transistors; Amorphous InGaZnO (a-IGZO); subgap density of states (DOS); thin-film transistor (TFT);
机译:利用顶栅效应的底栅非晶InGaZnO_4薄膜晶体管pH传感器
机译:双堆叠Ga_2O_3 / SiO_2介质的非晶InGaZnO薄膜晶体管的低频噪声表征
机译:利用$ hbox {SiN} _ {x} $和$ hbox {SiO} _ {2} $栅极电介质通过低频噪声测量验证a-InGaZnO薄膜晶体管的界面状态特性
机译:具有非真空处理的InGaZnO / AlOx栅介电叠层的A-InGaZnO薄膜晶体管
机译:无定形SiO2纳米粒子的计算建模及其电子结构计算
机译:氧含量对底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管电流应力诱导的不稳定性的影响
机译:在具有完全底栅和部分顶栅结构的非晶氧化物半导体薄膜晶体管中偏置诱导的电离供体的迁移