机译:基于频谱分析仪的近场EMI扫描的相位测量
Missouri Univ Sci & Technol EMC Lab Rolla MO 65409 USA;
TU Dortmund Univ On Board Syst Lab D-44227 Dortmund Germany|HELLA GmbH & Co KGaA D-59552 Lippstadt Germany;
Missouri Univ Sci & Technol EMC Lab Rolla MO 65409 USA;
Amber Precis Instruments San Jose CA 95134 USA;
TU Dortmund Univ On Board Syst Lab D-44227 Dortmund Germany;
Missouri Univ Sci & Technol EMC Lab Rolla MO 65409 USA;
Missouri Univ Sci & Technol EMC Lab Rolla MO 65409 USA;
Amber Precis Instruments San Jose CA 95134 USA;
Phase measurement; Probes; Frequency measurement; Attenuators; Electromagnetic interference; Switches; Voltage control; Electromagnetic interference (EMI); near-field measurements; oscilloscope; phase-resolved measurements; probes; spectrum analyzer (SA); vector network analyzer (VNA);
机译:EMI应用中相分辨近场扫描中探头校准的有效方法
机译:使用近场扫描平面重建的数字相控阵平面近场测量
机译:从两个表面扫描的释放近场天线测量 - 数值和实验研究
机译:EMI扫描应用的宽带相位解析频谱分析仪测量
机译:基于频谱分析仪的相位测量,用于EMI扫描应用。
机译:通过氧析出测量原子力显微镜和扫描近场光学显微镜设计功能化脂质并证明其与光系统II核心复合物的结合。
机译:用于球面近场天线测量的双phi-stepθ扫描技术:用于球面近场天线测量的双φ步进θ扫描技术
机译:采用平面近场扫描技术的低旁瓣相控阵天线特性:理论与实验。