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机译:最小延迟边距/错误检测和触发器和脉冲闩锁在10-NM CMOS中的校正
Intel Labs Circuit Research Lab Intel Corporation Hillsboro OR USA;
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Latches; Clocks; Temperature measurement; Pulse generation; Solid state circuits; Aging; Detectors;
机译:具有原位定时误差检测和基于28 nm CMOS的脉冲锁存设计的宽电压范围转换检测器
机译:气泡剃须刀:使用架构上独立的错误检测和纠正功能消除了45 nm CMOS的ARM Cortex-M3处理器中的时序裕量
机译:纳米级触发器中由散粒噪声引起的故障第二部分:10 nm最终CMOS中的故障率
机译:使用反采样链(BSC)技术对14nm三栅CMOS中辐射引起的脉冲波形和触发器软错误进行统计表征
机译:CMOS存储器电路中脉冲电离辐射引起的误差的仿真。
机译:具有CMOS图像传感器误差校正功能的两步单斜率/ SAR ADC
机译:在40 nm CMOS技术中使用皮秒脉冲激光激发D触发器的SEU灵敏度和建模
机译:探测器II的设计:用于研究并发错误检测技术的CmOs门阵列