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机译:使用SPICE在45nm技术下基于CMOS和Finfet的电路的性能比较
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机译:无结和反相模式FinFET实现的CMOS电路的逻辑性能比较
机译:考虑基本算术电路的III-V TFET技术平台针对10-nm CMOS FinFET技术节点的基准测试
机译:高κ/金属栅极低功率批量技术 - 标准CMOS逻辑电路,微处理器关键路径复制品和SRAM的性能评估为45nm及更远
机译:在16NM技术中使用FinFET和CMOS的8T SRAM单元的设计与性能评估
机译:用于神经科学和基于细胞的生物传感器的多电极阵列中的CMOS集成电路技术的商业化
机译:基于传统CmOs和FinFET的45nm工艺的6T XOR-XNOR电路分析