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机译:8-羟基喹啉分光光度法测定高纯锑中的铁和铜等杂质
机译:使用王水蒸气原位生成的三氯化锑挥发,通过电感耦合等离子体质谱法测定高纯锑中的痕量杂质
机译:用聚氧乙烯型表面活性剂涂覆的Amberlite XAD-4去除铁基质,用于测定高纯铁中的痕量杂质
机译:差分脉冲阳极溶出伏安法测定高纯砷和氧化砷中的镉,铅,铜,锑和铋
机译:电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)在测定锑金属和三氧化二锑中杂质含量中的应用
机译:分析化学方法中的三取代有机磷化合物部分:用二噻唑酮和亚磷酸三苯酯分光光度法测定铜(I) PARTB:亚磷酸三酯的铜(I)卤化物络合物的吸收火焰光度法; C:环草四氢膦的卤化铜(I)络合物
机译:基质消除离子色谱法测定高纯碘化铯中痕量阴离子杂质
机译:“通过过量铬氧化三(1,10-菲咯啉)铁(II)间接动力学光度法测定微量锑(III)”
机译:少量杂质对高纯铁再结晶和晶粒长大的影响。注3。硼对再结晶的影响及杂质对正常和异常晶粒长大的影响