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机译:薄膜透射法在极紫外(EUV)波长下的光刻胶吸收测量
EUV LithographyPhotoresistAbsorptionMetrology;
机译:通过薄膜传递方法在极端紫外(EUV)波长下的光致抗蚀剂吸收测量
机译:离子束沉积SiC,Mo,Mg_(2)Si和InSb以及蒸发的Cr薄膜的极紫外反射率测量和光学常数
机译:离子束沉积碳薄膜的极紫外反射率测量和光学常数
机译:同时反射和透射测量以测定极紫外中薄膜的光学常数
机译:极紫外光致抗蚀剂:薄膜抗蚀剂的薄膜量子产率和LER。
机译:测量由于薄膜干涉引起的光子反射和吸收的波长相关辐射压力
机译:薄膜透射法在极端紫外(EUV)波长下的光致抗蚀剂吸收测量
机译:一种用于测量极真空紫外线中薄金属膜的反射,透射和光电子产率的装置