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Using AFM topography measurements in nanoparticle sizing

机译:在纳米颗粒尺寸测定中使用AFM形貌测量

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摘要

Two simple recipes for preparing Fe3O4 nanoparticles are briefly presented.The nanoparticles were characterized using Dynamic Light Scattering and AtomicForce Microscopy. The results of the DLS procedure are presented in detail anddiscussed in connection with the AFM results, highlighting the differences between thesize distribution in connection with the preparation parameters.
机译:简要介绍了制备Fe3O4纳米粒子的两个简单方法。使用动态光散射和原子力显微镜对纳米粒子进行了表征。详细介绍了DLS程序的结果,并与AFM结果进行了讨论,着重指出了与制备参数有关的尺寸分布之间的差异。

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