机译:通过电容量测量量化过冷氧化物熔体的结晶度
机译:通过电容测量量化的过冷氧化物熔体的结晶度
机译:电子回旋共振等离子体氧化法制备的氧化锗/锗界面的电学行为
机译:(I001_1)搅拌对以电容量测量为特征的过冷熔体结晶行为的影响
机译:高k氧化物结晶度对物理和电气测量评估的NMOS器件VT稳定性的影响
机译:通过角分辨X射线光电子能谱,零椭偏法和电容电压测量研究氧化物/硅界面的结构和电学性质
机译:等温熔融结晶过程中结晶聚合物的结构演化机理:基于同时WAXD / SAXS / FTIR测量的命题
机译:CCS条件下使用电容断层扫描的实时成像和持有量测量
机译:使用sigma Delta转换器进行电容测量,用于3D电容层析成像。