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Fan-Out an Independent Factor of Leakage current in Deep-Submicro meter Circuits

机译：扇出深亚微米电路中漏电流的独立因素

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来源
《Australian Journal of Basic and Applied Sciences》 |2015年第2015期|共5页
作者
Jothikumar R.; Dr.Sivabalan R.V.;
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原文格式 PDF
正文语种
中图分类经济计划与管理;
关键词
入库时间 2022-08-18 08:19:12

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