机译:验证高达325 GHz的波导(包括高反射器件)中的散射参数测量
机译:325–508 GHz频带中的晶圆上S参数测量
机译:325-508-GHz频段的晶片上S参数测量
机译:对“过调制波导装置的广义散射矩阵的测量技术”的更正
机译:从110 GHz到170 GHz的波导器件的S参数测量标准的可追溯性
机译:使用常规散射参数模型从散射测量中测量原位天线辐射参数。
机译:60 GHz平面近场测量中的探针位置误差校正:实验验证
机译:验证高达325 GHz的波导中的散射参数测量,包括高反射设备