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摘要

Bausteinprogrammierung und Systemtest wachsen zeitlich immer enger zusammen, in der Fertigungslinie sogar räumlich. Da in beiden Fällen ähnliche Methoden des Zugriffs Verwendung finden - etwa JTAG -, liegt es sogar nahe, beides zu kombinieren. Als einen Schritt auf dem Weg dorthin sieht Göpel electronic die Markteinführung einer Produktfamilie von High-Speed-Multi-Site-Program-mern zur Inline-Programmierung nichtflüchtiger Speicher wie Flash, MCUs und programmierbaren Logikbausteinen.
机译:模块编程和系统测试越来越紧密地联系在一起,甚至在生产线上也是如此。由于在两种情况下都使用类似的访问方法(例如JTAG),因此将两者结合起来是有意义的。 Göpelelectronic认为,高速多站点编程器产品系列的市场启动是迈向这一步的第一步,该系列产品用于对闪存,MCU和可编程逻辑模块等非易失性存储器进行嵌入式编程。

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  • 来源
    《Design & Elektronik》 |2012年第6期|p.8|共1页
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