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Keio Univ Kohoku Ku 3-14-1 Hiyoshi Yokohama Kanagawa 2238522 Japan;
Univ Tokyo Bunkyo Ku 7-3-1 Hondo Tokyo 1138656 Japan;
Keio Univ Kohoku Ku 3-14-1 Hiyoshi Yokohama Kanagawa 2238522 Japan;
On-device learning; neural networks; semi-supervised anomaly detection; OS-ELM; FPGA;
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