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A consistent bayesian bootstrap for chi-squared goodness-of-fit test using a dirichlet prior

机译:使用Dirichlet的Chi平方英尺的Chi平方英良好测试的一致贝叶斯举止

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摘要

In this paper, we employ the Dirichlet process in a hypothesis testing framework to propose a Bayesian nonparametric chi-squared goodness-of-fit test. Our suggested method corresponds to Lo's Bayesian bootstrap procedure for chi-squared goodness of-fit test and rectifies some shortcomings of regular bootstrap which only counts number of observations falling in each bin in contingency tables. We consider the Dirichlet process as the prior for the distribution of the data and carry out the test based on the Kullback-Leibler distance between the updated Dirichlet process and the hypothesized distribution. Moreover, the results are generalized to chi-squared test of independence for a contingency table.
机译:在本文中,我们在假设检测框架中使用Dirichlet方法,以提出贝叶斯非参数Chi平方的拟合良好测试。 我们的建议方法对应于LO的贝叶斯举行程序,用于Chi平方英尺的拟合测试,并纠正了常规引导的一些缺点,该常规引导率仅计算在应急表中每个箱中落入每个箱中的观察的数量。 我们认为Dirichlet过程作为数据的分布,并基于更新的Dirichlet过程和假设分布之间的kullback-Leibler距离进行测试。 此外,结果是推广到应急表的独立性的Chi平方试验。

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