机译:测量FWA处理样品的光学性能的新方法
KonicaMinolta Sensing Inc., R&D, Division, 3-91 Daisennishi-machi, Sakai-ku, Sakai-shi, Osaka 590-8551, Japan;
fluorescence; bi-spectral luminescent radiance factor; total spectral radiance factor; fluorescent spectral radiance factor; FWA;
机译:测量FWA处理过的纸上印刷样品光学性能的新方法
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机译:使用偏振计和斯托克斯参数测量光学样品的线性双折射和双衰减特性
机译:快速循环热退火(RRTA)方法后处理的纳米晶体巨磁光BiAlDyIG薄膜材料的磁光特性
机译:用于测量热处理零件变形的光学技术。
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机译:用于测量FWA处理纸上印刷样品光学性能的新方法的错误
机译:测量天体物理尘埃类似物的光学特性:仪器和方法