...
首页> 外文期刊>Circuit cellar >Multilevel Audible Logical Probe Testing, Troubleshooting, and Debugging
【24h】

Multilevel Audible Logical Probe Testing, Troubleshooting, and Debugging

机译:多级可听逻辑探针测试,故障排除和调试

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

You can build a single-input, multilevel audible logical probe in fairly short order. The design detailed in this article is intended for checking equipment with transistor-transistor logic and CMOS integrated circuits or other technologies for installations powered from a 12-V car battery.
机译:您可以以相当短的顺序构建单输入,多级可听逻辑探测器。本文详细介绍的设计旨在检查具有晶体管晶体管逻辑和CMOS集成电路的设备,或用于12V汽车电池供电的安装的其他技术。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号