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Nouvelle approche de modélisation des transistors micro-ondes MESFET et HEMT

机译:MESFET和HEMT微波晶体管的新建模方法

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摘要

The authors present an analytical model of current drain–source based on the one established by Chalmers. As the precision of parameters is directly bound to the measured maximal value of the transconductance, a precision level of 25 % is obtained. To improve this precision, the combined optimization algorithm with the Chalmers model is elaborated. The results obtained are very satisfactory. For a mathematical function , with three terms in the saturated region, the influence of the temperature represents correctly the drain current for the voltage near a pinch-off voltage.Les auteurs présentent un modèle analytique du courant drain–source basé sur celui établi par Chalmers. La précision des paramètres étant directement liée à la valeur maximale de la transconductance mesurée, une erreur de 25 % est observée sur le courant drain–source. Une combinaison de l'algorithme d'optimisation avec l'algorithme analytique de Chalmers est élaborée pour améliorer ce modèle. Les résultats obtenus sont très satisfaisants. La fonction mathématique , avec trois termes pour la région de saturation, représente correctement le courant drain pour des tensions proches de la tension de pincement.PACS No.: 85.30De
机译:作者基于Chalmers建立的一种电流消耗源分析模型。由于参数的精度与跨导的测量最大值直接相关,因此可获得25%的精度。为了提高此精度,阐述了与Chalmers模型组合的优化算法。获得的结果非常令人满意。对于一个数学函数,在饱和区域有3个项,温度的影响正确地表示了在夹断电压附近的电压的漏极电流,作者基于Chalmers建立的漏极-源极电流分析模型。 。参数的精度与测量的跨导的最大值直接相关,在漏-源电流上观察到25%的误差。开发了优化算法和Chalmers解析算法的组合以改进此模型。获得的结果非常令人满意。该数学函数具有三个用于饱和区的项,可以正确表示接近于收缩电压的电压的漏极电流。PACS编号:85.30De

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