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机译:电扫描探针显微镜探测3C-SiC探针过早分解的原点
CNR Ist Microelettron & Microsistemi Str 8 5 Zona Ind I-95121 Catania Italy;
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NOVASiC Savoie Technolac BP267 F-73375 Le Bourget Du Lac France;
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3C-SiC; MOS; Oxide breakdown; Conductive atomic force microscopy; Scanning capacitance microscopy;
机译:硅衬底MIS结构中Yb_2O_3薄膜的电导转换和电击穿:扫描探针显微镜的比较研究
机译:绝缘扫描探针显微镜探针在液体中进行电子和机电成像的制备,动力学和电学性质
机译:通过扫描探针显微术对栅极氧化物进行电学表征
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机译:扫描探针显微镜和击穿电压下的硅氧化。
机译:非易失性存储应用中的扫描探针显微镜技术对掺杂铜的氧化锌薄膜中的陷获电荷进行电学研究
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