机译:聚苯乙烯(PS)低聚物样品的聚二甲基硅氧烷(PDMS)污染:飞行时间静态次级离子质谱(TOF-SSIMS)和X射线光电子能谱(XPS)结果的比较
Laboratory VIII.23, Thin Film and Surface Analysis, Bundesanstalt fuer Materialforschung-und pruefung (BAM), Unter den Eichen 44-46, D-12203 Berlin, Germany;
PDMS; TOF-SIMS; polystyrene; segregation;
机译:紫外线暴露的聚苯乙烯的X射线光电子能谱(XPS)和飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)分析
机译:吸附白蛋白和纤连蛋白膜的静态飞行时间二次离子质谱和X射线光电子能谱表征
机译:X射线光电子能谱(XPS)和飞行时间二次离子质谱法(ToF-SIMS)对金属涂层纺织品进行抛光处理的研究
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和X射线光电子谱(XPS)的抗真菌肽MUC7 12-MEC的药物递送系统的表征。
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和X射线光电子能谱(XPS)在研究遗传工程蛋白与贵金属膜之间的相互作用中的应用。
机译:通过X射线光电子能谱和飞行时间二次离子质谱分析探测白蛋白在磷酸钙上的吸附
机译:潜在指纹的化学表征,包括基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像:比较