机译:基于HfO_2的三元和二元组成的氧化膜的非晶稳定性,作为可选的栅极电介质
Materials and Structures Laboratory, Tokyo Institute of Technology, 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226-8503, Japan;
combinatorial; high-k; amorphous; ternary oxide;
机译:互补金属氧化物半导体中替代栅介质的二元氧化物稳定性的热力学考虑
机译:非晶态氧化镧薄膜作为替代的高k栅极电介质
机译:使用高κHfO_2作为栅绝缘体的室温制备的透明非晶态氧化铟锌基薄膜晶体管
机译:使用Maxwell-Wagner不稳定模型分析双层栅极电介质叠层的非晶铟 - 镓 - 氧化锌薄膜晶体管
机译:薄膜中的主题:非均相催化剂中纳米级的几何结构敏感性,以及用于替代栅介质的铈氧化物
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:非晶态氧化镧L薄膜替代高k材料:高k栅极电介质的物理和技术5