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Quantum states in fabricating poly-Si films

机译:多晶硅薄膜的量子态

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摘要

The quantum states are presented in these processions of fabricating poly-Si films. Amorphous silicon films prepared by PECVD has been crystallized by conventional furnace annealing (FA) and rapid thermal annealing (RTA), respectively. It is found that the thin films grain size present quantum states with the increasing of the gas flow ratios of SiH4, H-2 mixture, substrate temperatures, frequency power, annealing temperature and time. (c) 2005 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译:在这些制造多晶硅膜的过程中呈现出量子态。通过PECVD制备的非晶硅膜已经分别通过常规的炉退火(FA)和快速热退火(RTA)来结晶。发现随着SiH4,H-2混合气体的气体流量比,衬底温度,频率功率,退火温度和时间的增加,薄膜晶粒尺寸呈现量子态。 (c)2005 Elsevier B.V.保留所有权利。

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