机译:Si(1 1 1)-(4×1)-In衬底上Ag膜的厚度依赖性条纹结构稳定性
Key Laboratory of Automobile Materials (Jilin University), Ministry of Education and Department of Material Science and Engineering, Jilin University, Changchun 130025, China;
stripe structure; stacking fault; critical thickness;
机译:Si(111)-(4 x 1)-In衬底上Ag膜的厚度依赖性条纹结构稳定性
机译:Si(111)-(4 x 1)-In衬底上Ag膜的厚度依赖性条纹结构稳定性
机译:使用具有间隔层厚度依赖的层间耦合的堆叠结构调整条状畴结构化CoFeB薄膜的磁性
机译:硅衬底上的图案化FeCoBSi非晶薄膜的厚度依赖性磁性
机译:高度相关材料的X射线散射研究:三氟铜酸钾中的轨道有序和铋铁氧体外延薄膜中的条纹状畴结构。
机译:组合条纹图案化的FeCoBSi薄膜的厚度依赖性磁共振和微波表征
机译:基于纯应变效应的形状记忆合金衬底上铁磁膜厚度依赖的电子结构调制
机译:正交(001)BiFeO3薄膜在正交TbscO3衬底上的条纹区域结构