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机译:钙钛矿型BiFeO3 /尖晶石(Fe,Zn)(3)O-4共沉积薄膜的电扫描探针法纳米研究
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, Ibaraki, Osaka 5670047, Japan;
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, Ibaraki, Osaka 5670047, Japan;
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, Ibaraki, Osaka 5670047, Japan;
Univ Lyon, INSA Lyon, Inst Nanotechnol Lyon, F-69621 Villeurbanne, France;
Univ Lyon, Inst Nanotechnol Lyon, Ecole Cent Lyon, F-69134 Ecully, France;
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, Ibaraki, Osaka 5670047, Japan;
Piezoresponse force microscopy; Conductive atomic force microscopy; Local piezoelectric hysteresis loops; Co-deposited thin film; BiFeO3; (Fe,Zn)(3)O-4;
机译:扫描探针显微镜研究铝氧化锌薄膜的纳米表面电性能
机译:扫描探针显微镜研究Cu2ZnSnSe4薄膜的微电性能
机译:通过扫描探针显微镜测量BifeO3薄膜中的畴壁磁阻
机译:化学浴共沉积CdS-ZnS薄膜的光学和电学性质
机译:铁电薄膜和二维范德华材料的扫描探针显微镜和电传输研究
机译:磁场辅助扫描探针显微镜揭示的La掺杂BiFeO3多铁性薄膜中的局部磁电效应
机译:偏置扫描探针显微镜技术在BiFeO3和ZnO薄膜多功能表征中的应用