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机译:偏置扫描探针显微镜技术在BiFeO3和ZnO薄膜多功能表征中的应用
AMIT KUMAR;
机译:使用扫描探针显微镜技术研究铜掺杂氧化锌(ZnO:Cu)薄膜的电阻切换行为
机译:通过扫描探针显微镜测量BifeO3薄膜中的畴壁磁阻
机译:通过扫描探针显微镜技术对充放电的富锂薄膜阴极进行纳米级表征
机译:用于生物传感器的P(tBuMA-co-MMA)薄膜的辐射图案:通过扫描探针显微镜表征
机译:扫描探针显微镜技术表征氧化锌基材料的多功能性质
机译:磁场辅助扫描探针显微镜揭示的La掺杂BiFeO3多铁性薄膜中的局部磁电效应
机译:扫描探针显微镜技术表征氧化锌基材料的多功能性
机译:ZnO半导体薄膜,制造ZnO薄膜晶体管的方法以及应用该方法制造的ZnO薄膜晶体管
机译:纳米探针尖端,用于渐进式扫描探针显微镜,带有一层探针材料,该材料通过光刻和/或离子喷射技术构成
机译:氧化锌(ZnO)基单晶的制造方法,ZnO基薄膜和ZnO基单晶薄膜,以及ZnO基单晶薄膜和包含该ZnO基单晶薄膜的ZnO基材料
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