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Measurements of the write error rate in bit patterned magnetic recording at 100–320 Gb/in2

机译:在100-320 Gb / in2的位模式磁记录中的写错误率测量

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摘要

We demonstrate a technique for measuring the intrinsic bit-error-rate as a function of write misregistration in bit patterned media. We examine the recording performance at bit densities of 100, 200, and 320 Gigabits per square inch (Gb/in2) and find that the on-track write misregistration margin for error rates below 10-4 is ∼1/4 of a bit length for all three densities. We demonstrate two-dimensional recording at sub 10-4 bit error rate at 100 and 200 Gb/in2 and with a 10-3 bit error rate at 320 Gb/in2.
机译:我们展示了一种用于测量固有位错误率的技术,该技术是位模式媒体中写入未配准的函数。我们以每平方英寸100、200和320吉比特(Gb / in2)的比特密度检查了记录性能,发现对于10-4以下的误码率,在轨写入失准裕度约为比特长度的1/4。所有三种密度。我们演示了在100和200 Gb / in2下以次10-4误码率和在320 Gb / in2下10-3误码率的二维记录。

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  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2010年第5期|共页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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