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Measurements of the write error rate in bit patterned magnetic recording at 100-320 Gb/in~2

机译:在100-320 Gb / in〜2的位模式磁记录中的写错误率测量

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摘要

We demonstrate a technique for measuring the intrinsic bit-error-rate as a function of write misregistration in bit patterned media. We examine the recording performance at bit densities of 100, 200, and 320 Gigabits per square inch (Gb/in~2) and find that the on-track write misregistration margin for error rates below 10~(-4) is ~1/4 of a bit length for all three densities. We demonstrate two-dimensional recording at sub 10~(-4) bit error rate at 100 and 200 Gb/in~2 and with a 10~(-3) bit error rate at 320 Gb/in~2.
机译:我们演示了一种用于测量固有位误码率的技术,该误码率是位模式媒体中写入未配准的函数。我们检查了每平方英寸100、200和320吉比特(Gb / in〜2)的比特密度下的记录性能,发现对于10%(-4)以下的误码率,磁道写入失准裕度为〜1 /所有三种密度的位长为4。我们演示了在100和200 Gb / in〜2下以次10〜(-4)误码率和在320 Gb / in〜2下具有10〜(-3)误码率的二维记录。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2010年第5期|052509.1-052509.3|共3页
  • 作者单位

    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

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    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

    San Jose Research Center, Hitachi Global Storage Technologies, 3403 Yerba Buena Rd., San Jose,California 95135, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:18:40

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