机译:ZnO光致发光效率与激发条件和缺陷密度的关系
Department of Chemistry, Duke University, Durham, North Carolina 27708, USA|c|;
机译:ZnO光致发光效率与激发条件和缺陷密度的关系
机译:通过时间分辨光致发光和慢正电子an灭技术研究的ZnO外延层中光致发光寿命和缺陷密度的直接比较
机译:通过时间分辨光致发光和慢正电子an灭技术研究的ZnO外延层中光致发光寿命和缺陷密度的直接比较
机译:通过时间分辨的光致发光和慢正电子湮灭技术研究了光致发光寿命和缺陷密度的直接比较
机译:ZnO,TiO2和金刚石薄膜的纳米级表面和界面缺陷的光致发光和表面光电压研究。
机译:量子点中激发密度的光致发光超线性依赖性的受控抑制
机译:通过模式辅助水热法合成ZnO纳米棒的光致发光的温度和激发功率依赖性