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Observations of exciton and carrier spin relaxation in Be doped p-type GaAs

机译:Be掺杂p型GaAs中激子和载流子自旋弛豫的观察

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摘要

We have investigated the exciton and carrier spin relaxation in Be-doped p-type GaAs. Time-resolved spin-dependent photoluminescence (PL) measurements revealed spin relaxation behaviors between 10 and 100 K. Two PL peaks were observed at 1.511 eV (peak 1) and 1.497 eV (peak 2) at 10 K, and are attributed to the recombination of excitons bound to neutral Be acceptors (peak 1) and the band-to-acceptor transition (peak 2). The spin relaxation times of both PL peaks were measured to be 1.3–3.1 ns at 10–100 K, and found to originate from common electron spin relaxation. The observed existence of a carrier density dependence of the spin relaxation time at 10–77 K indicates that the Bir-Aronov-Pikus process is the dominant spin relaxation mechanism.
机译:我们已经研究了Be掺杂的p型GaAs中的激子和载流子自旋弛豫。时间分辨的自旋相关光致发光(PL)测量显示自旋弛豫行为在10和100 K之间。在10 K处观察到两个PL峰分别为1.511 eV(峰1)和1.497 eV(峰2),这归因于重组绑定到中性Be受体的激子(峰1)和能带到受体的跃迁(峰2)。在10–100 K时,两个PL峰的自旋弛豫时间均测得为1.3–3.1 ns,并且发现其源自常见的电子自旋弛豫。在10–77 K处观察到的自旋弛豫时间的载流子密度依赖性的存在表明Bir-Aronov-Pikus过程是主要的自旋弛豫机制。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2014年第11期|1-4|共4页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-17 13:10:10

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