机译:X射线光电子能谱法测量的h-BN / Al_(0.7)Ga_(0.3)N异质结的小价带偏移
Natl Inst Informat & Commun Technol NICT, Adv ICT Res Inst, Kobe, Hyogo 6512492, Japan;
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机译:使用X射线光电子能谱确定HfO_2 / lnN(0001)和lnN / ln_(0.3)Ga_(0.7)N(0001)异质结处的价带偏移
机译:X射线光电子能谱法测量n-Zn_(0.8)Mg_(0.2)O / p-Ni_(0.8)Mg_(0.2)O异质结的价带偏移,两侧带隙可调
机译:X射线光电子能谱法测量的非极性ZnO / Zn1-xMgxO异质结的小价带偏移
机译:X射线光电子能谱法测定h-BN / Al_(0.7)Ga_(0.3)N异质结的能带对准
机译:紫外光电子能谱分析半导体量子点和宽带隙氧化物界面的价电子结构。
机译:X射线光电子能谱法测量InN / BaTiO3异质结的价带偏移
机译:X射线光电子能谱法测量纤锌矿InN / SrTiO3异质结的价带偏移