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机译:AlGaN / GaN异质结构中应变松弛的临界厚度的原位测量
Sandia National Laboratories, Albuquerque, New Mexico 87185-0601;
机译:β-gan/ mgo结构中应变松弛的临界厚度的原位测量
机译:各种盖层引起的AlGaN势垒层应变弛豫对AlGaN / GaN异质结构中输运性能的影响
机译:不同表面钝化电介质对AlGaN / GaN异质结构中AlGaN高温应变弛豫的影响
机译:AlGaN厚度和成分不同的GaN / AlGaN / GaN异质结构器件的静水压研究
机译:高性能紫外线光电探测器和LED和光电探测器的单片集成在SI上生长的P-GAN / AlGaN / GaN异质结构上的LED和PhotoTopetector
机译:使用低Al组成的单个AlGaN层在Si衬底上生长高质量和均匀的AlGaN / GaN异质结构
机译:在静水压力下具有变化的AlGaN厚度和成分的GaN / AlGaN / GaN双异质结构的电流与电压特性
机译:用于近红外量子阱光电探测器的GaN / alGaN应变平衡异质结构