机译:HfO_(2)的介电结构对硅衬底载流子产生速率和沟道迁移率的影响
Microelectronics Research Center, R9950, The University of Texas at Austin, Austin, Texas 78758;
机译:钽穿透氧化ha层对硅衬底载流子产生速率和载流子迁移率降低的影响
机译:HfO_(2)栅极电介质n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中1 / f噪声参数与有效低场迁移率之间的相关性
机译:具有SiO_2和HfO_2栅极电介质的硅衬底上的反向电荷载流子的非接触迁移率测量
机译:掺杂SiC衬底上生长的AlGaN / GaN掺杂沟道异质结场效应晶体管中的衬底偏置效应
机译:具有高κ栅极电介质的硅,锗和III -V衬底中的电子迁移率计算
机译:电介质天线耦合到ε近零的超宽热自由载子调谐
机译:高迁移率双极mos2场效应晶体管:基板和 介电效应