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Effects of temperature on good rectifying characteristic of manganite-based p-n junction

机译:温度对锰基p-n结良好整流特性的影响

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摘要

The good rectifying characteristic of manganite-based p-n junction are reproduced. Different from conventional p-n junctions, the variation of electronic structure of doped manganite with temperature is considered. It is obtained that the diffusion potential of a manganite-based p-n junction decreases with the increasing temperature. It is in good agreement with experimental results.
机译:再现了锰基p-n结的良好整流特性。与常规的p-n结不同,考虑了掺杂锰铁矿的电子结构随温度的变化。可以看出,随着温度的升高,锰基p-n结的扩散势降低。与实验结果非常吻合。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2005年第19期|p.192511.1-192511.3|共3页
  • 作者

    Tian-Yi Cai; Zhen-Ya Li;

  • 作者单位

    Department of Physics, Suzhou University, Suzhou, 215006, China;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

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