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机译:通过x射线反射率和小角度x射线散射测定介孔二氧化硅薄膜的多孔性能
Laboratoire de Physique de l'Etat Condense, UMR CNRS 6087, Universite du Maine, 72085 Le Mans Cedex 09, France;
机译:通过X射线反射率,光学反射率和掠入射小角度X射线散射分析中孔薄膜
机译:通过水的毛细管冷凝作用通过X射线反射率测定介孔二氧化硅薄膜的弹性模量
机译:定量X射线反射率分析和GISAXS法测定介孔二氧化硅薄膜的孔隙率
机译:多孔低k介电常数薄膜使用X射线反射率和小角度散射的结构和性能特征
机译:使用小角度X射线散射和互补技术对合成的有序介孔硅酸盐(MCM-41)进行结构分析和表征。
机译:脂质模板化二氧化硅和混合薄膜中间相的表征掠入射小角X射线散射
机译:X射线反射率,衍射和掠入射小角度X射线散射作为溶胶-凝胶氧化锆薄膜微结构研究的补充方法
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