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High-performance metal-semiconductor-metal deep-ultraviolet photodetectors based on homoepitaxial diamond thin film

机译:基于同质外延金刚石薄膜的高性能金属-半导体-金属深紫外光电探测器

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摘要

The authors report on the high-performance metal-semiconductor-metal planar photoconductors based on unintentionally doped homoepitaxial diamond thin films. The photoconductors exhibit a discrimination ratio up to 10~8 between 210 nm and visible light. The spectral responsivity at 220 nm is about 6 A/W biased at 3 V, corresponding to a photoconductivity gain of 33. Time-resolved photoresponse measurements using a pulsed 193 nm laser show that the response time is smaller than the pulse width of 10 ns.
机译:作者报告了基于无意掺杂的同质外延金刚石薄膜的高性能金属-半导体-金属平面光电导体。光电导体在210 nm和可见光之间的分辨率高达10〜8。 220 nm处的光谱响应度在3 V下偏置约为6 A / W,对应于33的光电导增益。使用脉冲193 nm激光进行时间分辨的光响应测量表明,响应时间小于10 ns的脉冲宽度。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2006年第11期|p.113509.1-113509.3|共3页
  • 作者

    Meiyong Liao; Yasuo Koide;

  • 作者单位

    Sensor Materials Center, National Institute for Materials Science (NIMS), 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, Japan;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

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