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Electrical signatures of ferromagnetism in epitaxial FeSi_2 nanowires

机译:外延FeSi_2纳米线中铁磁性的电学特征

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摘要

We perform electrical characterization of epitaxial FeSi_2 nanowires (NWs) realized by reactive epitaxy, Typical resistance values exceed 100 kΩ, a high value that is attributed to the combined influence of interfacial scattering and process-related damage. Negative magnetoresistance due to weak localization, as well as hysteresis and anisotropic magnetoresistance, are also observed at low temperatures, confirming the ferromagnetic nature of these NWs.
机译:我们对通过反应性外延实现的外延FeSi_2纳米线(NWs)进行电学表征,典型电阻值超过100kΩ,这一高值归因于界面散射和与工艺相关的损伤的综合影响。在低温下还观察到由于弱的局部化而产生的负磁阻以及磁滞和各向异性磁阻,这证实了这些NW的铁磁性质。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2010年第26期|p.263111.1-263111.3|共3页
  • 作者

    T. Kim; J. P. Bird;

  • 作者单位

    Department of Electrical Engineering, Arizona State University, Tempe, Arizona 85287-5706, USA;

    Department of Electrical Engineering, University at Buffalo, Buffalo, New York 14260-1920, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:19:15

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