首页> 外文期刊>Applied Physicsletters >Influence of polarization fields on carrier lifetime and recombination rates in InGaN-based light-emitting diodes
【24h】

Influence of polarization fields on carrier lifetime and recombination rates in InGaN-based light-emitting diodes

机译:极化场对InGaN基发光二极管中载流子寿命和复合率的影响

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

We study differential carrier lifetimes in InGaN light-emitting diodes (LEDs) of varying wavelengths. Increase in wavelength is correlated with an increase in lifetime, due to the impact of the polarization fields on carrier overlap. This effect explains the early onset of droop in longer-wavelength LEDs.
机译:我们研究不同波长的InGaN发光二极管(LED)的差分载流子寿命。由于偏振场对载流子重叠的影响,波长的增加与寿命的增加相关。这种效应说明了较长波长的LED会较早出现下垂。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2010年第3期|P.033501.1-033501.3|共3页
  • 作者单位

    Philips Lumileds Lighting Company, 370 W. Trimble Rd. San Jose, California 95131, USA;

    Philips Lumileds Lighting Company, 370 W. Trimble Rd. San Jose, California 95131, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:18:55

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号