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Counting statistics in an InAs nanowire quantum dot with a vertically coupled charge detector

机译:使用垂直耦合电荷检测器对InAs纳米线量子点中的统计进行计数

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摘要

A gate-defined quantum dot (QD) in an InAs nanowire is fabricated on top of a quantum point contact realized in a two-dimensional electron gas. The strong coupling between these two quantum devices is used to perform time-averaged as well as time-resolved charge detection experiments for electron flow through the quantum dot. We demonstrate that the Fano factor describing shot noise or time-correlations in single-electron transport depends in the theoretically expected way on the asymmetry of the tunneling barriers even in a regime where the thermal energy k_BT is comparable to the single-particle level spacing in the dot.
机译:在二维电子气中实现的量子点接触的顶部,制造InAs纳米线中的栅极定义的量子点(QD)。这两个量子器件之间的强耦合用于对流过量子点的电子执行时间平均以及时间分辨的电荷检测实验。我们证明了描述单电子传输中的散粒噪声或时间相关性的Fano因子在理论上依赖于隧穿势垒的不对称性,即使在热能k_BT可以与单粒子能级间距相比较的情况下也是如此。点。

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  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2012年第7期|p.072110.1-072110.4|共4页
  • 作者单位

    Solid State Physics Laboratory, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland;

    Solid State Physics Laboratory, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland;

    FIRST lab, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland;

    Solid State Physics Laboratory, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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