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Origin of InGaN light-emitting diode efficiency improvements using chirped AlGaN multi-quantum barriers

机译:使用chi AlGaN多量子势垒提高InGaN发光二极管效率的起源

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摘要

We analyze efficiency droop reductions in InGaN/GaN light-emitting diodes caused by a chirped AlGaN/GaN multi-quantum barrier (MQB). Such electron barriers are expected to create an additional forbidden energy range above the natural conduction band edge, which reduces the electron leakage current. Advanced numerical device simulations reveal that energy band bending practically eliminates this MQB effect. Instead, we find that the measured efficiency improvement has its origin in enhanced hole injection, which can be more easily accomplished using a single thin AlGaN layer.
机译:我们分析了由于GaN AlGaN / GaN多量子势垒(MQB)导致的InGaN / GaN发光二极管效率下降。预期此类电子势垒会在自然导带边缘之上产生额外的禁能范围,从而降低电子泄漏电流。先进的数字设备仿真表明,能带弯曲实际上消除了这种MQB效应。取而代之的是,我们发现测得的效率提高源自增强的空穴注入,而使用单个AlGaN薄层就可以更轻松地实现。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2013年第2期|023510.1-023510.4|共4页
  • 作者

    Joachim Piprek; Z. M. Simon Li;

  • 作者单位

    NUSOD Institute LLC, P.O. Box 7204, Newark, Delaware 19714, USA;

    Crosslight Software Inc., 121-3989 Henning Drive, Burnaby, British Columbia V5C 6P8, Canada;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:16:17

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