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机译:额外磷植入方式的比较降低阈值电压和UMOS的导通电阻
Institute of MicroelectronicsSouthwest Jiaotong University Chengdu 611756 China;
Institute of MicroelectronicsSouthwest Jiaotong University Chengdu 611756 China;
Extra phosphorus implantation; on-resistance; threshold voltage; UMOS;
机译:E模式GaN-Hemts在反向电流导通应力下栅极阈值电压不稳定性和导通电阻劣化
机译:使用光环结构具有高阈值电压和低导通电阻的SiC-MOSFET
机译:在开关模式操作期间GaN HEMT的导通电阻(R-on)和阈值电压(V-TH)的演变
机译:降低UMOS阈值电压和导通电阻的额外磷注入方式的比较
机译:具有低导通电阻的高压氮化镓HEMT,适用于开关应用。
机译:在SiNx钝化层中注入氟离子的高击穿电压和低动态导通电阻AlGaN / GaN HEMT
机译:高击穿电压和低动态导通电阻AlGaN / GaN HEMT在SINX钝化层中具有氟离子注入