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机译:纳米层状样品的无损表征
Materials Science Institute Technische Universität Darmstadt Petersenstr. 23 64287 Darmstadt Germany;
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Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abbestr. 2–12 10587 Berlin Germany;
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Institut für Gerätebau GmbH Rudower Chaussee 29–31 12489 Berlin Germany;
Röntgenanalytik Messtechnik GmbH Georg-Ohm-Str. 6 65232 Taunusstein Germany;
BrukerAXS GmbH Östliche Rheinbrückenstr. 49 76187 Karlsruhe Germany;
BrukerAXS GmbH Östliche Rheinbrückenstr. 49 76187 Karlsruhe Germany;
Continental VDO Automotive AG VDO-Str. 1 64832 Babenhausen Germany;
Layers; Elements; Oxides; Purity; Sequence; Roughness; Density; Homogeneity; Thickness; XRR; RBS; WDXRF; SRXRF; μ-XRF;
机译:纳米层状样品的无损表征
机译:液相外延法在CdZnTe上生长的HgCdTe层中残余螺纹位错密度的无损表征
机译:椭圆偏振光谱法对具有纳米级a-Si:H和In_2O_3:Sn层的a-Si:H / c-Si异质结太阳能电池结构进行无损表征
机译:血浆植入样品的不同表征技术的比较具有高掺杂和浅注入层的血浆植入样品:剂量测量,轮廓,蚀刻或沉积表征
机译:高速光学相干层析成像技术的发展,用于时间流逝的样品非破坏性表征
机译:使用非破坏性空气耦合声学技术表征双层片剂的力学性能
机译:通过同时形貌和电容成像在纳米尺度上对生物层进行无损厚度测量