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Impact of N Incorporation on VLS Growth of GaP(N) Nanowires Utilizing UDMH

机译:掺氮对利用UDMH的GaP(N)纳米线VLS生长的影响

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摘要

III–V nanowires (NWs) possess great potential for use in future semiconductor technology. Alloying with dilute amounts of nitrogen provides further flexibility in tuning their material properties. In this study, we report on successful in situ nitrogen incorporation into GaP(N) NWs during growth via the Au-catalyzed vapor-liquid-solid (VLS) mechanism. The impact of the nitrogen precursur unsymmetrical dimethyl hydrazine (UDMH) on morphology was found to be overall beneficial as it strongly reduces tapering. Analysis of the crystal structure of NWs with and without N reveals zinc blende structure with an intermediate amount of stacking faults (SF). Interestingly, N incorporation leads to segments completely free of SFs, which are related to dislocations transverse to the growth direction.
机译:III–V纳米线(NW)具有在未来半导体技术中使用的巨大潜力。与少量氮合金化在调整其材料性能方面提供了更大的灵活性。在这项研究中,我们报告了通过Au催化的气液固(VLS)机制在生长过程中成功地将原位氮掺入GaP(N)NWs中。发现氮前驱体不对称二甲基肼(UDMH)对形态的影响总体上是有益的,因为它大大减少了锥度。对具有和不具有N的NW的晶体结构进行分析后发现,锌混合结构具有中等数量的堆垛层错(SF)。有趣的是,N掺入导致段完全不含SF,这与横向于生长方向的位错有关。

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