机译:电接触对微继电器开关接触残余应力的影响
机译:交流接触器的电气性能降解模型及剩余电气寿命预测
机译:用于RF MEMS开关的Au-Au-Au薄膜触点的电接触行为研究
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机译:探索MEMS开关触点中的热开关损坏和损坏机理。
机译:第三接触控制SAM-I核糖开关的开关
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机译:表面粗糙度和时效对金 - 镍 - 铜连接材料电接触电阻和残余应力的影响。