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New Findings on Multilayer Silicene on Si(111)√3×√3R30°–Ag Template

机译:Si(111)√3×√3R30°–Ag模板上的多层硅的新发现

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摘要

We report new findings on multilayer silicene grown on Si(111)√3 × √3 R30°–Ag template, after the recent first compelling experimental evidence of its synthesis. Low-energy electron diffraction, reflection high-energy electron diffraction, and energy-dispersive grazing incidence X-ray diffraction measurements were performed to show up the fingerprints of √3 × √3 multilayer silicene. Angle-resolved photoemission spectroscopy displayed new features in the second surface Brillouin zone, attributed to the multilayer silicene on Si(111)√3 × √3 R30°–Ag. Band-structure dispersion theoretical calculations performed on a model of three honeycomb stacked layers, silicene grown on Si(111)√3 × √3 R30°-Ag surface confirm the experimental results.
机译:在最近首次令人信服的合成实验证据之后,我们报告了在Si(111)√3×√3R30°-Ag模板上生长的多层硅的新发现。进行了低能电子衍射,反射高能电子衍射和能量色散掠射X射线衍射测量,以显示√3×√3多层硅的指纹。角度分辨光发射光谱法在第二表面布里渊区显示了新的特征,这归因于Si(111)√3×√3R30°-Ag上的多层硅烯。在三层蜂窝堆叠层的模型上进行的带结构色散理论计算,在Si(111)√3×√3R30°-Ag表面上生长的硅证实了实验结果。

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