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Sb、Cu杂质及低温（77°k）对锗晶体红外透明性的影响

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对不同掺Ｓｂ、Ｃｕ杂质浓度锗晶体２．５－２５μｍ红外波段透射谱线测试结果进行了分析。目的是根据半导体物理学理论及实验结果，判断掺Ｓｂ、Ｃｕ杂质对锗晶体２．５－２５μｍ波段红外透明性的影响机制，以及低温下３．０８μｍ处吸收增强的原因。 ?

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来源
《云南冶金：科学技术版》 |1994年第4期|35-40|共6页
作者
张志坚;
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作者单位

无;

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正文语种 CHI
中图分类 TN304.11;
关键词
锗晶体; 杂质; 低温; 红外透明性; 锑; 铜;

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