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机译:在低温下锗晶体中的杂质浓度依赖于电导
Manoranjan Ghosh; Shreyas Pitale; S G Singh; Shashwati Sen; S C Gadkari;
机译:含高浓度氧杂质的锗晶体的直拉生长
机译:不同杂质浓度的独立式GaN晶体中电性能和结晶度的拉曼散射分析
机译:金属纳米结构中与温度有关的导热和导电
机译:低温红外光谱法测定低浓度粉尘中的结晶二氧化硅
机译:拖曳热型电极的各向异性参数对n型锗和硅晶体中的杂质浓度的依赖性
机译:极低浓度温度和离子杂质对304不锈钢应力腐蚀开裂的影响
机译:半导体器件具有被高杂质浓度的第一多晶层然后被低杂质浓度的第二多晶层覆盖的衬底
机译:cirouito桥接器,用于测量极低温下的锗温度计晶体的电阻
机译:在指定的初始低温和随后高温下,通过CVD在单晶硅衬底上,特别是在微电子学硅晶片上形成单晶锗层
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