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X射线数字成像在GIS装配检测中的应用

         

摘要

GIS设备导体连接触头的间隙过大容易引发故障.在SF6气体压力下,GIS设备壳体在安装过程中容易发生偏移,导致导体触头之间的间隙发生变化.本文针对某新建220 kV变电站出现的GIS设备壳体偏移问题,利用X射线数字成像技术对壳体内部进行透视检测.通过X射线影像分析了壳体偏移对母线导体连接触头间隙的影响,检测结果表明:壳体位移量在波纹管的作用下均匀分布于各个触头连接处,使触头间隙尺寸满足设计要求.

著录项

  • 来源
    《云南电力技术》 |2018年第1期|29-31|共3页
  • 作者单位

    云南电网有限责任公司电力科学研究院,昆明 650217;

    云南电网有限责任公司电力科学研究院,昆明 650217;

    华北电力大学机械工程系,河北保定 071003;

    云南电网有限责任公司电力科学研究院,昆明 650217;

    华北电力大学机械工程系,河北保定 071003;

    云南电网有限责任公司电力科学研究院,昆明 650217;

    云南电网有限责任公司电力科学研究院,昆明 650217;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TMTM930.1;
  • 关键词

    X射线数字成像技术; GIS; 波纹管; 触头间隙;

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